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普析形態(tài)分析儀的技術(shù)原理與應用范圍說明

發(fā)布時間:2024-08-20

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   普析形態(tài)分析儀是一種基于X射線衍射(XRD)和X射線熒光(XRF)技術(shù)的先進分析儀器,廣泛應用于地質(zhì)、礦物、材料、環(huán)境、考古等多個領(lǐng)域。
  一、技術(shù)原理
  X射線衍射:XRD技術(shù)是通過測量X射線與物質(zhì)相互作用后產(chǎn)生的衍射信號來分析物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。普析形態(tài)分析儀采用高性能X射線發(fā)生器和探測器,能夠精確控制X射線的波長和入射角度,從而獲得高質(zhì)量的衍射數(shù)據(jù)。通過對衍射數(shù)據(jù)的解析,可以確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、晶胞參數(shù)、晶粒大小等信息。
 
  X射線熒光:XRF技術(shù)是通過測量X射線激發(fā)物質(zhì)后產(chǎn)生的熒光信號來分析物質(zhì)的元素組成。普析形態(tài)分析儀采用能量色散型X射線探測器,能夠同時檢測多種元素的熒光信號。通過對熒光信號的定量分析,可以確定物質(zhì)中各元素的含量。
 普析形態(tài)分析儀
  二、應用范圍
  地質(zhì)與礦物學:可用于分析巖石、礦物、土壤等樣品的礦物組成、晶體結(jié)構(gòu)和元素含量,為地質(zhì)勘探、礦產(chǎn)資源開發(fā)和環(huán)境保護提供有力支持。
 
  材料科學:可用于研究金屬、陶瓷、高分子等材料的晶體結(jié)構(gòu)、相變、晶粒大小等性質(zhì),為新材料的研究與開發(fā)提供重要依據(jù)。
 
  環(huán)境科學:可用于分析水樣、土壤樣、大氣顆粒物等環(huán)境樣品中的重金屬、無機非金屬等污染物,為環(huán)境污染治理和生態(tài)修復提供科學依據(jù)。
 
  其他領(lǐng)域:還可應用于生物學、醫(yī)學、半導體等領(lǐng)域的樣品分析,為相關(guān)領(lǐng)域的研究與發(fā)展提供有力支持。
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    北京普析通用儀器有限責任公司

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